光模块的一些标志时间测试 -pg电子直营网

已200g qsfpdd psm8为例，梳理下测试光模块性能指标和测试方法：

1. management timing performance

1.1 intl assert time

测试要求：需要测试的时间是光模块在rx光信号丢失也就是rx los比特位置1和中断intl由高拉低的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个点击测试板上的intl点，使用对应的gui将其他标志mask后去掉需要断开通道的rx los的mask勾选再读取page11h，0x93这一个地址的值，此时测试板上intl灯灭（intl高电平），再将rx光纤连接的一个通道断开，读取0x93地址触发sda，此时测试板上intl灯亮（intl低电平）报rx los触发intl。

测试结果:

测试图片:

1.2 intl deassert time

测试要求：需要测试的时间是光模块在rx光信号恢复和中断intl由低到高的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个点击测试板上的intl点，使用对应的gui将其他标志mask后去掉需要断开通道的rx los的mask勾选再读取page11h，0x93这一个地址的值，此时测试板上intl灯亮（intl低电平），再将rx光纤断开的一个通道连接，读取0x93地址触发sda，此时测试板上intl灯灭（intl高电平）将rx恢复信号触发intl。

测试结果:

测试图片:

1.3 rx los assert time

测试要求：需要测试的时间是光模块在在检测到光信号丢失后，将rx-los位设置为1并将intl拉低所花费的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器将需要测试的一个通道的接收端接入到分光器的out，拔分光器的in端进行触发。

测试结果:

测试图片:

1.4 tx squelch assert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从tx输入信号丢失到squelched输出条件达到的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的out（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个连接分光器，点击gui中的ctrl页的tx force squlch功能对应的测试通道（勾选此功能）进行触发。

测试结果:

测试图片:

1.5 tx squelch deassert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从tx输入信号恢复到达到正常tx输出状态的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的out（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个连接分光器，点击gui中的ctrl页的tx force squlch功能对应的测试通道（去掉勾选此功能）进行触发。

测试结果:

测试图片:

1.6 tx disable assert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从tx禁用位清除到0到光输出超过标称的90%的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的out（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个连接分光器，点击gui中的ctrl页的tx disable功能对应的测试通道（勾选此功能）进行触发。 测试结果:

测试图片:

1.7 tx disable deassert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从tx禁用位设置为1到光输出低于标称值的10%的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的out（light_out），使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个连接分光器，点击gui中的ctrl页的tx disable功能对应的测试通道（去掉勾选此功能）进行触发。 测试结果:

测试图片:

1.8 rx output disable assert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从rx输出禁用位清除到0，直到rx输出超过标称值的90%的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的out，使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个连接测试板上rx信号的中心点上（rx_data_out），点击gui中的ctrl页的rx output disable功能对应的测试通道（勾选此功能）进行触发。 测试结果:

测试图片:

1.9 rx output disable deassert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从rx输出禁用位设置为1到rx输出降到额定值的10%以下的时间。

测试方法：将光模块插入测试板中，使用分光器，将需要测试通道的发射端接入分光器的out，使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个连接测试板上rx信号的中心点上（rx_data_out），点击gui中的ctrl页的rx output disable功能对应的测试通道（去掉勾选此功能）进行触发。 测试结果:

测试图片:

1.10 mask assert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从各标志的掩码位集设置为1直到intl中断由低变高的时间。

测试方法：光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个点击测试板上的intl点，通过gui页面点击相应标志的mask（勾选此功能）触发； 测试结果:

测试图片:

1.11mask deassert time

测试要求：需要测试的时间是光模块从各标志的掩码位集清除为0直到intl中断由高变低的时间。

测试方法：光模块插入测试板中，使用示波器两个探头，一个接测试板上的sda脚，一个点击测试板上的intl点，通过gui页面点击相应标志的mask（去掉勾选此功能）触发； 测试结果:

测试图片:

2. i2c timing

2.1 100khz

测试方法：用i2c管理工具将速率设置为100khz，再读光模块进行i2c时序相关测试；

测试结果：

测试图片 (100k):

clock frequency	clock pulse width low
clock pulse width high	start hold time
start set-up time	data in hold time
data in set-up time	input rise time
input fall time	stop set-up time

2.2 400khz

测试方法：用i2c管理工具将速率设置为400khz，再读光模块进行i2c时序相关测试；

测试结果：

测试图片 (400k):

clock frequency	clock pulse width low
clock pulse width high	start hold time
start set-up time	data in hold time
data in set-up time	input rise time
input fall time	stop set-up time